Publications

Author:  
All :: A, B, C, D, E, F, G, H, I, J, K, L, M, N, O, P, R, S, T, V, W, X, Y, Z 
All :: Vianello, Vogt 
Preferences: 
References per page:Show keywordsShow abstracts
References
2.
J. Stuhler, M. Abdel-Hafiz, B. Arar, A. Bawamia, K. Bergner, M. Biethahn, S. Brakhane, A. Didier, J. Fortágh, M. Halder, R. Holzwarth, N. Huntemann, M. Johanning, R. Jördens, W. Kaenders, F. Karlewski, F. Kienle, M. Krutzik, M. Lessing, T. E. Mehlstäubler, D. Meschede, E. Peik, A. Peters, P. O. Schmidt, H. Siebeneich, Chr. Tamm, E. Vogt, A. Wicht, C. Wunderlich, J. Yu
Measurement: Sensors, 18 (100264)
ISSN: 2665-9174
December (2021)
1.
M. Abdel-Hafiz, P. Ablewski, A. Al-Masoudi, H. Alvarez Martinez, P. Balling, G. Barwood, E. Benkler, M. Bober, M. Borkowski, W. Bowden, R. Ciuryło, H. Cybulski, A. Didier, M. Doležal, S. Dörscher, S. Falke, R. M. Godun, R. Hamid, I. R. Hill, R. Hobson, N. Huntemann, Y. Le Coq, R. Le Targat, T. Legero, T. Lindvall, Ch. Lisdat, J. Lodewyck, H. S. Margolis, T. E. Mehlstäubler, E. Peik, L. Pelzer, M. Pizzocaro, B. Rauf, A. Rolland, N. Scharnhorst, M. Schioppo, P. O. Schmidt, R. Schwarz, C. Senel, N. Spethmann, U. Sterr, Chr. Tamm, J. W. Thomsen, A. Vianello, M. Zawada
June (2019)
Export as:
BibTeX, XML